XJ-1型正置式金相顯微鏡是2001年推出的國內*新型中級金相顯微鏡，能廣泛應用于金相、巖相、集成電路、晶體等領域內的檢驗及科學研究工作。
儀器光路采用了無窮遠成像系統，配有一套新設計的平場消色差物鏡，其成像清晰平坦，視域開闊，具有優良的組織鑒別力。偏光裝置：內置式起偏和檢偏系統。
使用者一邊觀察一邊可以同時進行成像記錄。在儀器上設有CCD接口能夠連接攝影裝置，數碼相機拍攝或顯微鏡監視系統下進行定量的圖像分析工作。
儀器造型新穎，結構穩固，所具有的功能全部裝置在顯微鏡主機內，從而確保使用者快速操作，并能獲得一致的成像效果。
配置表
1. 物鏡
放大倍數 數值孔徑 工作距離 介質 備注 配置
PC10* 0.25 16.5 空氣 PL/∞ 1
PC20* 0.40 1.6 空氣 PL/∞ 1
PC40* 0.65 0.55 空氣 PL/∞ 1
PC80* 0.90 0.2 空氣 PL/∞ 1
2. 目鏡
放大倍數 焦距 視場直徑 備注 配置
10* 25 φ18 2
10* 25 φ18 帶有0.1mm分化板 選配
12.5* 25 φ14 選配
3. 放大倍數：100倍至1000倍
4. 調焦機構：同軸粗微調機構，調節范圍36mm，微動格值0.002mm。
5. 載物臺：載物臺面積190mm*150mm。同軸式X，Y向轉動手輪，X向行程為90mm，Y向行程為60mm。
6. 照明：12V50W鹵素燈光源，可以連續調壓。
7. 儀器功能：明場，偏光，攝影等。
8. 儀器體積：長380mm，寬200mm，高460mm。
9. 儀器重量：11.8公斤。